饱和湿度试验采用严酷的温度、湿度和偏压条件,加速水分通过外部保护材料(密封剂或密封件)或沿着外部保护材料和穿过它的金属导体之间的界面渗透,与双85稳态湿度寿命试验激发相同的失效机制
检测范围 | |
半导体分立器件 | 高压蒸煮 |
集成电路 | 无偏置HAST |
微电子器件 | 无偏置温湿度试验 |
IC等的高加速应力测试 | 温湿度偏置等项目 |
检测项目 | |
国防 | 电子零配件 |
航天 | 塑胶 |
汽车部件 | 磁铁行业 |
制药线路板 | 多层线路板 |
IC | LCD |
磁铁 | 灯饰 |
照明制品 | |
多在产品的设计阶段开展,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节 |
检测标准 | |
JESD22-A118B | 加速湿度抵抗-非偏置高加速应力试验 |
JESD22-A110 | 高加速温度和湿度应力试验 |
AEC-Q101-Rev-E March1 | 车用分立半导体元器件的基于失效机理的应力测试验证 |
AEC-Q100-Rev-H | 集成电路的基于失效机理的应力测试验证 |
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